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Thursday 21/10/2010 Room A5-01, 2 pm.

Speaker: Daniel Jonathan (UFF)

Title: Como medir a qualidade de uma porta lógica?

Abstract: :Uma questão inevitável em qualquer implementação experimental de um processador quântico é: como se pode determinar de forma quantitativa a qualidade de um dado experimento? Dando um exemplo concreto: numa situação em que se deseja implementar uma dada porta lógica U, suponha que o sistema efetivamente implemente uma transformação (em geral, não unitária) T. Como medir a ‘proximidade’ destas duas transformações, de uma forma que seja ao mesmo tempo teoricamente bem-embasada e experimentalmente viável?

Neste journal-club discutirei dois artigos abordando essas questões, que acredito serem diretamente relevante para os trabalhos realizados no nosso lab.

PHYSICAL REVIEW A 71, 062310 (2005) Distance measures to compare real and ideal quantum processes Alexei Gilchrist et al

Measuring two-qubit gates JOSA B Vol. 24 Issue 2, pp.172-183 (2007) Andrew White et al.

O primeiro é uma discussão teórica, o segundo um ‘manual’ escrito para experimentais.

Por fim, se der tempo, mencionarei um probleminha no qual estou trabalhando onde essas questões reaparecem em outra forma.